تصریح

تکنیکی معیار

158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2

P type monocrystalline wafer 1

P type monocrystalline wafer 2

فی الحال سلیکون سولر پی وی بنیادی طور پر 156.75 ملی میٹر ایکس 156.75 ملی میٹر پی ٹائپ مونو کرسٹل لائن ویفرز استعمال کر رہا ہے، لیکن کچھ وہ بڑے ویفر اور سیل سائز جیسے 158.75 ملی میٹر ایکس 158.75 ملی میٹر کی طرف منتقل ہو رہے ہیں۔ کچھ مینوفیکچررز نے پہلے ہی اس عمل کا آغاز کردیا ہے۔ 158.75 ملی میٹر مربع ویفر زیادہ توجہ حاصل کرنے کی وجہ میں سے ایک یہ ہے کہ ماضی کے معیاری 60 سیل کے قریب ماڈیول جہت اور72 سیل ماڈیول، موجودہ مینوفیکچرنگ آلات کو ریٹرو فٹ اور برقرار رکھنے کی فراہمی.

مونو سی ویفرز کے مستقبل میں 158.75 ملی میٹر فل اسکوائر زیادہ تر سولر پی وی مینوفیکچررز کا سب سے زیادہ اپنایا گیا ڈیزائن بن جائے گا۔ یقینا کچھ مینوفیکچررز ویفرز استعمال کرتے ہیں جو اس سے بڑے ہیں۔ مثال کے طور پر ایل جی اور ہانوہ کیو سیلز ایم 4 ویفرز (161.7 ملی میٹر) استعمال کرتے ہیں جبکہ لونگی 166 ملی میٹر (ایم 6) ویفرز کی تشہیر کر رہے ہیں۔

1 مادی خصوصیات

مال	تفصیلات	معائنہ کا طریقہ
نمو کا طریقہ	سی زیڈ
کرسٹلنیٹی	مونو کرسٹل	ترجیحی نقوش تکنیک（اے ایس ٹی ایم ایف 47-88）
طرز عمل	پی قسم	نیپسن ای سی-80ٹی پی این پی/این
دوپنت	بورون، گیلیئم	-
آکسیجن کا ارتکاز[اوئی]	≦8ای+17 پر/سینٹی میٹر³	ایف ٹی آئی آر (اے ایس ٹی ایم ایف 121-83)
کاربن ارتکاز[سی ایس]	≦5ای+16 پر/سینٹی میٹر³	ایف ٹی آئی آر (اے ایس ٹی ایم ایف 123-91)
نقوش گڑھے کی کثافت (انتشار کثافت)	≦500 سینٹی میٹر^-3	ترجیحی نقوش تکنیک（اے ایس ٹی ایم ایف 47-88）
سطح ی رخ	<100>±3°	ایکسرے ڈفریکشن طریقہ (اے ایس ٹی ایم ایف 26-1987)
فرضی مربع اطراف کا رخ	<010>,<001>±3°	ایکسرے ڈفریکشن طریقہ (اے ایس ٹی ایم ایف 26-1987)

2 برقی خواص

مال

تفصیلات

معائنہ کا طریقہ

مزاحمت

0.5-1.5 Ωcm

ویفر معائنہ نظام

ایم سی ایل ٹی (اقلیتی کیریئر لائف ٹائم)

≧50 μs

سنٹن بی سی ٹی-400

(انجکشن کی سطح کے ساتھ: 1ای 15 سم^-3)

3 ہندسہ

مال	تفصیلات	معائنہ کا طریقہ
ہندسہ	مکمل مربع
ویفر سائیڈ لمبائی	158.75±0.25 ملی میٹر	ویفر معائنہ نظام
ویفر قطر	φ223±0.25 ملی میٹر	ویفر معائنہ نظام
متصل اطراف کے درمیان زاویہ	90° ± 0.2°	ویفر معائنہ نظام
موٹائی	180﹢20/﹣10 μm؛ 170﹢20/﹣10 μm	ویفر معائنہ نظام
ٹی ٹی وی (کل موٹائی کی تنوع)	≤27 μm	ویفر معائنہ نظام

4 سطحی خصوصیات

مال	تفصیلات	معائنہ کا طریقہ
کاٹنے کا طریقہ	ڈی ڈبلیو	--
سطح ی معیار	جیسا کہ کٹ اور صاف کیا جاتا ہے، کوئی نظر آنے والی آلودگی، (تیل یا چکنائی، انگلیوں کے نشانات، صابن کے داغ، سلری کے داغ، ایپوکسی/ گلو داغ کی اجازت نہیں ہے)	ویفر معائنہ نظام
نشانات / قدم دیکھے	≤ 15μm	ویفر معائنہ نظام
کمان	≤ 40 μm	ویفر معائنہ نظام
تانا	≤ 40 μm	ویفر معائنہ نظام
چپ	گہرائی ≤0.3 ملی میٹر اور لمبائی ≤ 0.5 ملی میٹر زیادہ سے زیادہ 2/پی سی؛ کوئی وی چپ نہیں	ننگی آنکھیں یا ویفر معائنہ نظام
مائیکرو دراڑیں / سوراخ	اجازت نہیں	ویفر معائنہ نظام

ڈاؤن لوڈ، اتارنا ٹیگ: پی ٹائپ 158.75 ملی میٹر مونو کرسٹل لائن سولر ویفر، چین، سپلائرز، مینوفیکچررز، فیکٹری، چین میں بنائی گئی

پی ٹائپ 158.75 ملی میٹر مونوکرسٹلین سولر ویفر