شمسی توانائی سے پیدا کرنے والے مینوفیکچررز نے باضابطہ طور پر شمسی صنعت کی سپلائی چین میں مینوفیکچرنگ لاگت کو کم کرنے کے ل large ایک نیا 'M10' (182 ملی میٹر x 182 ملی میٹر پی قسم کی monocrystalline) قائم کرنے کے لئے باضابطہ طور پر کوششیں شروع کر دی ہیں کیونکہ بڑے پیمانے پر وافر سائز کی تعداد پچھلے کچھ سالوں میں ابھر کر سامنے آئے۔
1. مادی خصوصیات
پراپرٹی | تفصیلات | معائنہ کا طریقہ |
نمو کا طریقہ | سی زیڈ | -- |
کرسٹلنیٹی | مونوکرسٹل لائن سلیکن | ترجیحی تکنیک کی تکنیک（ASTM F47-88） |
چالکتا کی قسم | پی قسم | نیپسن EC-80TPN P / N ٹیسٹر |
ڈوپینٹ | بورن / گیلیم | -- |
آکسیجن حراستی [Oi] | cm9E + 17 / سینٹی میٹر میں3 | ایف ٹی آئی آر (ASTM F121-83) |
کاربن ارتکاز [Cs] | E 4E + 16 / سینٹی میٹر میں3 | ایف ٹی آئ آر（ASTM F123-91） |
کھجور کی کثافت (سندچیوتی کثافت) | cm 500 سینٹی میٹر-2 | ترجیحی تکنیک کی تکنیک（ASTM F47-88） |
سطح کی واقفیت | [جی جی] ایل ٹی؛ 100 [جی جی] جی ٹی؛ ± 3 ° | ایکس رے پھیلاؤ کا طریقہ（ASTM F26-1987） |
چھدم مربع اطراف کی واقفیت | [جی جی] ایل ٹی؛ 010 [جی جی] جی ٹی ؛، [جی جی] ایل ٹی؛ 001 [جی جی] جی ٹی؛ ± 3 ° | ایکس رے پھیلاؤ کا طریقہ（ASTM F26-1987） |
2. بجلی کی خصوصیات
پراپرٹی | تفصیلات | معائنہ کا طریقہ |
مزاحمت | 0.4-1.5-Cm | wafer معائنہ کے نظام |
ایم سی ایل ٹی (اقلیتی کیریئر کی زندگی بھر) | ≥50µs | سنٹن بی سی ٹی 400 کیو ایس ایس پی سی / عارضی (انجیکشن لیول کے ساتھ: 1E15) سینٹی میٹر-3) |
3. جیومیٹری
پراپرٹی | تفصیلات | معائنہ کا طریقہ |
جیومیٹری | چھدم مربع | -- |
بیول کنارے کی شکل | گول | -- |
ویفر سائیڈ کی لمبائی | 182±0.25 ملی میٹر | wafer معائنہ کے نظام |
ویفر قطر | φ247±0.25 ملی میٹر | wafer معائنہ کے نظام |
ملحقہ اطراف کے درمیان زاویہ | 90° ± 0.2° | wafer معائنہ کے نظام |
موٹائی | 180﹢ 20/﹣10 µm 175﹢ 20/﹣10 µm 170﹢ 20/﹣10 µm 160﹢ 20/﹣10 µm 150﹢ 20/﹣10 µm دیگر | wafer معائنہ کے نظام |
ٹی وی ٹی وی (موٹائی کی مختلف حالتوں) | ≤ 28µm | wafer معائنہ کے نظام |
4. سطح کی خصوصیات
پراپرٹی | تفصیلات | معائنہ کا طریقہ |
کاٹنے کا طریقہ | ہیرا تار دیکھا | -- |
سطح کا معیار | جیسا کہ کٹ اور صاف ہے ، کوئی آلودگی نظر نہیں آتی ہے ، (تیل یا چکنائی ، فنگر پرنٹس ، داغ داغ ، ایپوسی / گلو کی باقیات کی اجازت نہیں ہے) | wafer معائنہ کے نظام |
دیکھا نشان | ≤ 15µm | wafer معائنہ کے نظام |
رکوع | ≤ 40 µm | wafer معائنہ کے نظام |
پٹا | ≤ 40 µm | wafer معائنہ کے نظام |
چپ | گہرائی ≤0.3 ملی میٹر اور لمبائی mm 0.5 ملی میٹر میکس 2 / پی سیز؛ کوئی وی چپ | ننگی آنکھیں یا wafer معائنے کا نظام |
مائیکرو دراڑیں / سوراخ | اجازت نہیں ہے | wafer معائنہ کے نظام |
